Superlega di polvere metallica altamente sferica Inconel 718 Argon AM (15-45um)

Informazioni di base

Modello numero:	GH4169
Applicazione	Aviazione, elettronica, industria, medicina, chimica, stampa 3D
Standard	JIS,GB,DIN,BS,ASTM,AISI
purezza	>99,99%
lega	lega
Tip	Polverizzatore
Polverizzatore	Polverizzatore
PSD	15–53 micron
Flusso Hall	20 secondi/50 g
Densità apparente	4,20 g/cm3
Tocca Densità	4,90 g/cm3
Pacchetto di trasporto	Secchio di plastica
specifica	10 kg
marchio	VMP
Origine	Cina
Codice HS	7504002000
Capacità produttiva	1000000 chilogrammi

Descrizione del prodotto

Polverbereich 718 (15–45 µm)Inconel 718 Argon AM (15–53 µm)

Introduzione al prodotto
GH4169 (IN718) è una superlega rinforzata con precipitazione a base di nichel che presenta buone proprietà complessive nell'intervallo di temperature da -253 a 650 °C. Il limite di snervamento inferiore a 650 ºC è al primo posto tra le superleghe deformate e ha una buona resistenza alla fatica, resistenza alle radiazioni, resistenza all'ossidazione, resistenza alla corrosione e buone proprietà di lavorazione

Composizione chimica della polvere (% in peso)

Elemento	C	Cr	In	Co	Mo	Al
Area del contenuto	≤0,08	17.0-21.0	50,0-55,0	≤ 1,00	2,80-3,30	0,30-0,70
Elemento	Von	N.B	B	Mg	Mn	E
Area del contenuto	0,65-1,15	4,75-5,5	≤0,006	≤0,01	≤0,35	≤0,35
Elemento	P	S	Cu	N	Ö	Fe
Area del contenuto	≤0,015	≤0,015	≤0,30	≤0,02	≤0,025	Bal.

Microscopio elettronico delle polveri (sfericità 0,9)

Proprietà fisiche della polvere

Progetto	La granularità			mobilità	Densità apparente	Densità del ripieno
Allineare	D10	D50	D90	≤18 secondi/50 g	≥4,2g/cm³	≥4,8g/cm³
	16-24um	32-40 u.m	45-53um

Prestazioni di stampa a polvere

Prestazioni trattate termicamente
Resistenza alla trazione (Mpa)	Limite di snervamento (Mpa	Durezza HRC/HV	rinnovo
1100±70	800±70	300±20HV5/15	24±4

Prestazioni dello stato di stampa
Resistenza alla trazione (Mpa)	Carico di snervamento (Mpa)	Durezza HRC/HV	rinnovo
1350±100	n / a	430±30HV5/15	16±4

Note: the surface hardness will vary greatly depending on the preparation method of the sample